中国科技论文

2015, v.10(17) 2054-2058

[打印本页] [关闭]
本期目录(Current Issue) | 过刊浏览(Past Issue) | 高级检索(Advanced Search)

模拟寿命谱分析ZnO正电子寿命
Positron lifetime evaluation of ZnO from simulated lifetime spectra

李泽智;李辉;王柱;

摘要(Abstract):

为研究寿命分解对ZnO缺陷寿命影响,模拟了ZnO中空位浓度在1015~1018 cm-3的含Zn空位、Zn空位氢复合体、Zn+O双空位的ZnO正电子寿命谱并进行拟合分解。结果表明:当存在多于1种空位型缺陷浓度时,正电子寿命谱仍能很好地分解成2个寿命成分;当多于2种缺陷同时存在时,2个寿命拟合分解出的正电子寿命将出现虚拟寿命;仅利用体寿命模型评价正电子寿命谱分解过程是否合理并不十分可靠,需结合具体情况来判断拟合分解的结果是否具有物理意义。本文研究结果有助于在数据处理上分析ZnO中存在的具有争议的正电子体寿命及空位寿命。

关键词(KeyWords): 正电子寿命;空位缺陷;ZnO

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金资助项目(11405115,11275142)

作者(Author): 李泽智;李辉;王柱;

Email:

DOI:

参考文献(References):

扩展功能
本文信息
服务与反馈
本文关键词相关文章
本文作者相关文章
中国知网
分享